产品描述

为针对DFB/EML芯片所推出的四面检测分选设备,丰富多样的缺陷检测以及高精度检测端面脊柱及发光条,为光通讯芯片良率的最佳守护员
产品特性

• DFB/EML芯片之四面检测分选设备
• 奈米级高分辨率光学学
• 高速检测能力
• P/N图形与多层图形缺陷
• 端面脊柱及发光条上缺陷检测
为针对DFB/EML芯片所推出的四面检测分选设备,丰富多样的缺陷检测以及高精度检测端面脊柱及发光条,为光通讯芯片良率的最佳守护员
• DFB/EML芯片之四面检测分选设备
• 奈米级高分辨率光学学
• 高速检测能力
• P/N图形与多层图形缺陷
• 端面脊柱及发光条上缺陷检测