产品描述
OC703为针对高功率LD芯片所推出的四面检测分选设备，丰富多样的缺陷检测以及高精度检测端面与发光条技术，为光通讯芯片良率的最佳守护员
产品特性
• 高功率LD芯片之四面检测分选设备
• 奈米级高分辨率光学
• 高速检测能力
• P/N图形与多层图形缺陷
• 端面及发光条上缺陷检测
